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電壓擊穿試驗(yàn)儀同一種介質(zhì)材料在不同的試驗(yàn)條件下所得擊穿電壓不同的原因

點(diǎn)擊次數(shù):1875  更新時(shí)間:2013-08-19

 

電壓擊穿試驗(yàn)儀為何交流電壓下測(cè)得的擊穿電壓比直流低的疑問。 (銷售體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀)

 

 

在交變電場(chǎng)下介電系數(shù)是電場(chǎng)頻率的函數(shù),當(dāng)電場(chǎng)頻率小時(shí),介電損耗就小,電場(chǎng)頻率高時(shí),介電損耗就高,就越易被擊穿,請(qǐng)參看德拜方程;  而
直流
電壓
下,電場(chǎng)不發(fā)作改變,這時(shí)相當(dāng)于靜電場(chǎng)中的介電狀況,電介質(zhì)的極化強(qiáng)度隨外電場(chǎng)強(qiáng)度E加大而增高,并取決于資料的相對(duì)介電系數(shù),而無介質(zhì)損耗發(fā)作,所以交流電壓下測(cè)得的擊穿電壓比直流低。
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