介電常數(shù)介質損耗測試儀（供應電壓擊穿試驗儀）
本參數(shù)有北京北廣精儀儀器設備有限公司提供 電壓擊穿試驗儀 體積電阻率表面電阻率測試儀 介電常數(shù)介質損耗測試儀 請登錄我公司
附表二,LKI-1電感組典型測試數(shù)據(jù)
線圈號 測試頻率 Q值 分布電容p 電感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz 50MHz 233211 0.9 0.125μH
介電常數(shù)介質損耗測試儀 符合國標GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。
2 主要技術指標：
2.1 測試信號頻率范圍：1kHz～70MHz，數(shù)字合成，可數(shù)字設置或連續(xù)調節(jié)，五位有效數(shù)顯。
2.2 Q值測量范圍：1～1000四位數(shù)顯，分辨率0.1Q。分100、316、999三檔，量程可自動切換。
2.3 Q值固有誤差：±5%±3% 滿刻度值。
2.4 有效電感測量范圍：0.1µH～1000mH。
2.5 電感測量誤差：≤5%±0.02µH
2.6 調諧電容特性：
2.6.1可調電容范圍：40pF～500 pF。
2.6.2 度：±1% 或0.5pF。
2.6.3微調電容器：-3pF～0～+3pF，分辨率：0.2pF
2.6.4殘余電感值：約30nH。
2.7 Q預置功能：Q預置范圍：1～1000均可。被測件達到預置值后有“GO”顯示和蜂鳴聲提示。不合格件則顯示“NO GO”。
2.8 外形尺寸及重量：415×180×170（mm）,6.5kg。
BH916 介質損耗測試裝置（數(shù)顯）
1工作特性
1.1 平板電容器：
1.1.1 極片尺寸：Φ38mm/Φ50mm.
1.1.2 極片間距可調范圍和分辨率：
≥8mm， ±0.002mm
1.2 夾具插頭間距：
25mm±1mm
1.3夾具損耗角正切值
≤2.5×10-4
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