電壓擊穿試驗儀 介電常數(shù)高頻
電壓擊穿試驗儀 介電常數(shù)高頻
主要技術(shù)特性
1.雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。
2.雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
3.雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。
4.自動化測量技術(shù) -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
5.全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
6.DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,頻率的高、幅度的高穩(wěn)定。
7.計算機(jī)自動修正技術(shù)和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低,** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。
8、使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點調(diào)諧電容值下檢測器件的品質(zhì),無須關(guān)注量程和換算單位。
電壓擊穿試驗儀
概述
BD916介質(zhì)損耗測試裝置與本公司生產(chǎn)的各款高頻Q表配套,可用于測量絕緣材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗系數(shù)(損耗角正切值)。
BD916介質(zhì)損耗測試裝置是BD916914的換代產(chǎn)品,它采用了數(shù)顯微測量裝置,因而讀數(shù)方便,數(shù)據(jù)。
測試裝置由一個LCD數(shù)字顯示微測量裝置和一對間距可調(diào)的平板電容器極片組成。
平板電容器極片用于夾持被測材料樣品,微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。
BD916介質(zhì)損耗測試裝置須配用Q表作為調(diào)諧指示儀器,通過被測材料樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品時的Q值變化,測得絕緣材料的損耗角正切值。
電壓擊穿試驗儀
滿足標(biāo)準(zhǔn):GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
電壓擊穿試驗儀
值測量范圍
2 ~ 1023 , 量程分檔: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自動換檔或手動換檔
固有誤差
≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz )
≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)
工作誤差
≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz )