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介質(zhì)損耗測(cè)試儀/介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

型 號(hào)GDAT-C

更新時(shí)間2024-11-19

廠(chǎng)商性質(zhì)生產(chǎn)廠(chǎng)家

報(bào)價(jià)

產(chǎn)品描述:介質(zhì)損耗測(cè)試儀/介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn):GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

產(chǎn)品概述


介質(zhì)損耗測(cè)試儀/介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn):GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
一、介質(zhì)損耗測(cè)試儀/介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀概述

GDAT高頻 Q 表作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器,測(cè)試頻率上限達(dá)到目前高的160MHz。


GDAT高頻 Q 表采用了多項(xiàng)技術(shù):

A雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。 B雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過(guò)數(shù)字按鍵輸入。 C雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。 D自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。 E全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。 FDDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源 -確保信源的高葆真,頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。 G計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路*化 —使測(cè)試回路 殘余電感減至zui低, Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。 
gdat高頻Q表的創(chuàng)新設(shè)計(jì),無(wú)疑為高頻元器件的阻抗測(cè)量提供了*的解決方案,它給從事高頻電子設(shè)計(jì)的工程師、科研人員、高校實(shí)驗(yàn)室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測(cè)工具
,測(cè)量值更為精確,測(cè)量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調(diào)諧電容值下檢測(cè)器件的品質(zhì),無(wú)須關(guān)注量程和換算單位。 
一、概述
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì),通過(guò)測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);
 
 

 

 

主要技術(shù)特性  

Q 值測(cè)量范圍  2 ~ 1023 
量程分檔 30 、 100 、 300 、 1000 ,自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔 
固有誤差  

≤ 5 % ± 滿(mǎn)度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ) 

≤6% ± 滿(mǎn)度值的2%(10MHz~160MHz)

工作誤差

 ≤7% ± 滿(mǎn)度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz )

 ≤8% ± 滿(mǎn)度值的2%(10MHz~160MHz) 

電感測(cè)量范圍4.5nH ~ 140mH  
電容直接測(cè)量范圍 1 ~ 200pF 
主電容調(diào)節(jié)范圍 18 ~ 220pF  
主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度

100pF 以下 ± 1pF

100pF 以上 ± 1 %

信號(hào)源頻率覆蓋范圍 100kHz ~ 160MHz  
頻率分段 ( 虛擬 ) 100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz

搭配了全新的介質(zhì)損耗裝置與GDAT系列q表搭配使用

 

電感:
 
線(xiàn)圈號(hào)    測(cè)試頻率    Q值    分布電容p       電感值  
  9         100KHz      98       9.4           25mH
  8         400KHz     138       11.4        4.87mH
  7         400KHz    202       16           0.99mH
  6           1MHz     196       13          252μH
  5           2MHz     198       8.7        49.8μH
  4         4.5MHz    231       7             10μH 
  3          12MHz      193     6.9         2.49μH
  2          12MHz      229     6.4        0.508μH             
  1   25MHz,50MHz   233,211    0.9       0.125μH

 

BD916介質(zhì)損耗測(cè)試裝置技術(shù)特性 

平板電容器: 極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可選  
極片間距可調(diào)范圍:≥15mm 
2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm 
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz) 
4.測(cè)微桿分辨率:0.001mm
 
 


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   中國(guó)檢測(cè)行業(yè)與驗(yàn)證服務(wù)的*者和智領(lǐng)者,幫助眾多檢測(cè)質(zhì)檢單位和學(xué)校教研單位提供一站式的全面質(zhì)量解決方案。

                  北京北廣精儀儀器設(shè)備有限公司    www.beiguangjy.com

 

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