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介電常數(shù)與介質(zhì)損耗測試儀

型 號gdat-a

更新時間2024-11-19

廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家

報價

產(chǎn)品描述:介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀滿足標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

產(chǎn)品概述

一、介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗儀概述

GDAT高頻 Q 表作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前高的160MHz。該儀器用于科研機關、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。 

  主要技術特性  
Q 值測量范圍  2 ~ 1023 , 量程分檔: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自動換檔或手動換檔  
固有誤差  ≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)  
工作誤差  ≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)  
電感測量范圍  4.5nH ~ 140mH  
電容直接測量范圍  1 ~ 200pF  
主電容調(diào)節(jié)范圍  18 ~ 220pF  
主電容調(diào)節(jié)準確度  100pF 以下 ± 1pF ; 100pF 以上 ± 1 %  
信號源頻率覆蓋范圍  100kHz ~ 160MHz  
頻率分段 ( 虛擬 )  100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz  
頻率指示誤差  3 × 10 -5 ± 1 個字  

 

介電常數(shù)Σ的測試
a. 再松開二極片,把被測樣品插入二極片之間,調(diào)節(jié)平板電容器,到二極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時要用測微桿,以免夾得過緊或過松),這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,既是樣品的厚度D2。改變Q 表上的主調(diào)電容容
量,使Q 表處于諧振點上。
b. 取出平板電容器中的樣品,這時Q 表又失諧,此時調(diào)節(jié)平板電容器,
使Q 表再回到諧振點上,讀取測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為D4
c. 計算被測樣品的介電常數(shù):
                       Σ=D2 / D4

2.介質(zhì)損耗系數(shù)的測試


a. 重新把測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個端上。把被測樣品插入二極片之間,改變Q 表上的主調(diào)電容容量,使Q 表處于諧振點上,讀得Q 值,記為Q2。電容讀數(shù)記為C2。

b. 取出平板電容器中的樣品,這時Q 表又失諧,再改變Q 表上的主調(diào)電容容量,使Q 表重新處于諧振點上。讀得Q 值,記為Q1。電容讀數(shù)記為C1。

c. 然后取下測試裝置,再改變Q 表上的主調(diào)電容容量,重新使之諧振,電容讀數(shù)記為C3,此時可計算得到測試裝置的電容為CZ = C3 -C1

d. 計算被測樣品的介質(zhì)損耗系數(shù)


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式中:CZ 為測試裝置的電容(平板電容器二極片間距為樣品的厚度D2)
C0 為測試電感的分布電容(參考LKI-1 電感組的分布電容值)

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