高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀廠家直供
產(chǎn)品概述
一 高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀廠家直供工作特性
1. 平板電容器
極片尺寸:φ25.4mm
極片間距可調(diào)范圍和分辨率:≥10mm,±0.01mm
2. 園筒電容器
電容量線性:0.33pF / mm±0.05 pF
長(zhǎng)度可調(diào)范圍和分辨率:≥0~20mm,±0.01mm
3. 夾具插頭間距:25mm±1mm
4. 夾角損耗角正切值:≤4×10-4(1MHz時(shí))
二. 高頻介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀廠家直供工作原理
本測(cè)試裝置是由二只測(cè)微電容器組成,平板電容器一般用來夾持被測(cè)樣品,園筒電容器是一只分辨率高達(dá)0.0033pF的線性可變電容器,
配用儀器作為指示儀器,絕緣材料的損耗角正切值是通過被測(cè)樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q值變化,由園筒電容器的刻度讀值變化值而換算得到的
。同時(shí),由平板電容器的刻度讀值變化而換算得到介電常數(shù)。
三. 使用方法
1. 被測(cè)樣品的準(zhǔn)備
被測(cè)樣品要求為園形,直徑25.4~27mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場(chǎng)引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1~5mm之間,如太薄或太厚則測(cè)試精度就會(huì)下降,樣品要盡可能平直。
下面推薦一種能提高測(cè)試精確性的方法:準(zhǔn)備二片厚0.05mm的園形錫膜,直徑和平板電容器極片*,錫膜兩面均勻地涂上一層薄薄的凡士林,它起粘著作用,又能排除接觸面之間殘余空氣,把錫膜再粘在平板電容器兩個(gè)極片上,粘好后,極片呈鏡面狀為佳,然后放上被測(cè)樣品。
2. 測(cè)試順序
先要詳細(xì)了解配用儀器的使用方法,操作時(shí),要避免人體感應(yīng)的影響。
a. 把配用的儀器主調(diào)諧電容置于zui小電容量,微調(diào)電容置于-3pF。
b. 把本夾具測(cè)試裝置插到儀器測(cè)試回路的“電容”兩個(gè)端子上,即插入到儀器上方接線銅柱的右邊兩個(gè)圓柱內(nèi)。
c. 配上相適應(yīng)的高Q值電感線圈,選擇電感沒有特別的方法,只有試或憑經(jīng)驗(yàn)來選擇合適的那個(gè),一般選擇使高頻儀器顯示Q值z(mì)ui大的電感zui為合適。
注:以上步驟是為了使高頻儀器工作起來(儀器是LC諧振工作原理,所以要選擇合適的電感才能使儀器諧振)
d. 調(diào)節(jié)平板電容器測(cè)微桿,使二極片相接為止,讀取刻度值記為DO。
e. 再松開二極片,把被測(cè)樣品插入二極片之間,調(diào)節(jié)平板電容器,到二極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時(shí)要用測(cè)微桿,以免夾得過緊或過松),這時(shí)能讀取新的刻度值,記為D1,這時(shí)樣品厚度D2= D1-D0。
注:以上d和e兩步是測(cè)出被測(cè)樣片的厚度,方便后面計(jì)算介電常數(shù)時(shí)用。
f. 把園筒電容器置于7mm處(該值不是的,我們一般在測(cè)的時(shí)候放到7mm處就可以測(cè)了,不過有的時(shí)候在做到h步0驟時(shí)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)完刻度了Q值還沒有達(dá)到一半,這時(shí)就要適當(dāng)?shù)陌?mm刻度調(diào)整到9mm或更大了)。
g. 改變配合儀器頻率,使之諧振,讀得Q值。(如果測(cè)試材料樣片有“要求的測(cè)試頻率”,那么就先把頻率定位到該頻率,然后再調(diào)節(jié)儀器的主調(diào)電容,使儀器諧振(即儀器的Q值顯示為zui大);如果不知道在頻率下測(cè)試的話,我們一般把頻率放在1MHz下來調(diào)試,然后再調(diào)節(jié)主調(diào)電容使儀器工作)。
h. 先順時(shí)針方向,后逆時(shí)針方向,調(diào)節(jié)園筒電容器,讀取當(dāng)儀器指示Q值為原值的一半時(shí)測(cè)微桿上二個(gè)刻度值,取這二個(gè)值之差,記為M1。(先記下園筒電容在7mm時(shí)儀器諧振時(shí)的zui大Q值,即d步驟測(cè)得的Q值;然后調(diào)節(jié)園筒電容器,看儀器的Q值顯示為原來的一半時(shí),讀取園筒電容器上邊的刻度為多少,要順時(shí)針和逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)兩次取兩個(gè)刻度值;如果園筒電容器順時(shí)針轉(zhuǎn)到0刻度時(shí)Q值還沒有到一半,那么就要返回到第f步驟把園筒電容器置于9mm處或更大,重新操作)。
i. 再調(diào)節(jié)園筒電容器,使儀器再次諧振(即把園筒電容器調(diào)回到7mm處)。
j. 取出平板電容器中的樣品,這時(shí)儀器又失諧,調(diào)節(jié)平
板電容器,使再諧振,讀取測(cè)微桿上的讀值D3,其變化值為
D4= D3-D0。
k. 和h款操作一樣,得到新的二個(gè)值之差,記為M2。
3. 計(jì)算測(cè)試結(jié)果
被測(cè)樣品的介電常數(shù):
Σ=D2 / D4
被測(cè)樣品的損耗角正切值:
tgδ=K(M1-M2 )/ 15.5
式中:K為園筒電容器線性變化率,一般為0.33。
4. 其他應(yīng)用使用方法
使用本測(cè)試裝置和儀器配用,對(duì)絕緣材料以及其他高阻性能的薄材,列如:優(yōu)質(zhì)紙張、優(yōu)質(zhì)木材、粉壓片料等,進(jìn)行相對(duì)測(cè)量,其測(cè)試方法就非常簡(jiǎn)便、實(shí)用,采取被測(cè)樣品和標(biāo)準(zhǔn)樣品相比較方法,就能靈敏地區(qū)別二者之間的輕微差別,例如含水量、配用原料變動(dòng)等等。
測(cè)試時(shí)先把標(biāo)準(zhǔn)樣品放入平板電容器,調(diào)節(jié)儀器頻率,諧振后讀得Q值,再換上被測(cè)樣品,調(diào)節(jié)園筒電位器,再諧振,看Q值變化,如Q值變化很小,說明標(biāo)準(zhǔn)樣品和被測(cè)樣品高頻損耗值*,反之說明二者性能有區(qū)別,如園筒電容器調(diào)節(jié)不能再諧振,通過調(diào)節(jié)儀器頻率才能諧振,且頻率變化較大,說明被測(cè)樣品和標(biāo)準(zhǔn)樣品的配用原材料相差較大。
四. 維修方法
本測(cè)試裝置是由精密機(jī)械構(gòu)件組成的測(cè)微設(shè)備,所以在使用和
保存時(shí)要避免振動(dòng)和碰撞,要求在不含腐蝕氣體和干燥的環(huán)境中使用和保存,不能自行拆裝,否則其工作性能就不能保證,如測(cè)試夾具受到碰撞,或者作為定期檢查,要檢測(cè)以下幾個(gè)指標(biāo):
1. 平板電容器二極片平行度不超過0.02mm。
2. 園筒電容器的軸和軸同心度誤差不超過0.1mm。
3. 保證二個(gè)測(cè)微桿0.01mm分辨率。
4. 用精密電容測(cè)量?jī)x(±0.01pF分辨率)測(cè)量園筒電容器,電容呈線性率,從0~20mm,每隔1mm測(cè)試一點(diǎn),要求符合工作特性要求。
儀器工作界面:
北廣公司自主研發(fā)電性能專業(yè)檢測(cè)儀器
序號(hào) | 設(shè)備名稱 | 設(shè)備型號(hào) | 測(cè)試指標(biāo) | 備注 |
1 | 電壓擊穿試驗(yàn)儀 | BDJC10KV-150KV | 介電強(qiáng)度、泄漏電流 | 介電強(qiáng)度、泄漏電流 |
2 | 體積表面電阻測(cè)定儀 | BEST-121 | 體積電阻率、表面電阻率 | 液晶顯示 |
3 | 體積表面電阻率測(cè)定儀 | BEST-212 | 體積電阻率、表面電阻率 |
|
4 | 導(dǎo)體電阻率測(cè)定儀 | BEST -19 | 導(dǎo)體電阻率 | 觸摸屏 |
6 | 半導(dǎo)體電阻率測(cè)定儀 | BEST-300C | 半導(dǎo)體電阻率 | 觸摸屏 |
7 | 高頻介電常數(shù)測(cè)試儀 | GDAT--A | 介電常數(shù)、介質(zhì)損耗 | 測(cè)試頻率50HZ-160MHZ |
8 | 工頻介電常數(shù)測(cè)試儀 | BQS-37A | 介電常數(shù)、介質(zhì)損耗 | 測(cè)試頻率50HZ |
9 | 耐電弧試驗(yàn)儀 | BDH-20KV | 耐電弧 | 微機(jī)控制、觸摸屏控制 |
10 | 高壓漏電起痕試驗(yàn)儀 | BLD-6000V | 高壓等級(jí)測(cè)試 | zui高電壓6KV |
11 | 耐電痕化指數(shù)測(cè)定儀 | BLD-600V | 漏電痕跡、電痕化CTI\PTI | zui高電壓600V |
: 王巧蕓
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